2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
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目
次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
コンデンサの識別 ················································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 2
1.2 寸法 ···························································································································· 2
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 3
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 4
1.8 追加情報 ······················································································································ 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 4
2 検査要求事項 ··················································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
（1）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS C 5101 電子機器用固定コンデンサの規格群には，次に示す部編成がある。
第1部：品目別通則
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
第2部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム
直流コンデンサ 評価水準E
第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E
第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E
第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1
第8部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1 評価水準E
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2
第9部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2 評価水準E
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
評価水準E
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
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JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ
ンサ 評価水準E
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ
ルスコンデンサ 評価水準E
第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデ
ンサ
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ
評価水準E
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価
水準E
第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ 評価水準EZ
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
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日本工業規格
JIS
C 5101-23-1：2008
(IEC 60384-23-1：2006)
電子機器用固定コンデンサ−
第23-1部：ブランク個別規格：
表面実装用固定メタライズドポリエチレン
ナフタレートフィルム直流コンデンサ
評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment−
Part 23-1: Blank detail specification−
Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film
dielectric DC capacitors−
Assessment level EZ
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 60384-23-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
ブランク個別規格
この規格は，品種別通則JIS C 5101-23の補足規格で，個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規
定したものである。これらの要求を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づいていないものとみなし，
そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，JIS C 5101-23の1.4（個別規格に規定する事項）に基づいて作成する。個別規格の最初の
ページとなるこの規格の2ページの表の括弧内の数字は，指定の位置に記入する次の事項と対応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称
(2) 個別規格の日本工業規格番号，発効年及び国内の制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及
び発行年
(3) 品目別通則の日本工業規格番号及び発効年又はIEC規格番号，版及び発行年
(4) ブランク個別規格の日本工業規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する日本工業規格又は国際規格の
引用。この図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
注記 個別規格に規定する評価水準は，品種別通則JIS C 5101-23の3.5.4（評価水準）から選定す
る。
ブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定して
もよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 日本工業標準調査会
例 電子機器用固定コンデンサ
個別規格番号
例 JIS C 5101-23-1（ブランク個別規格番号） (4)
第1部：品目別通則
個別規格の名称
例 表面実装用固定メタライズドポリエチレン
外形図（表1参照）
（第三角法）
ナフタレートフィルム直流コンデンサ
（規定寸法内であれば，外形は異なってもよい。）
構造の説明
評価水準（複数も可）：例 EZ
注記 (1)〜(9) は前述の識別による。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は，
品質認証電子部品一覧表 (QPL) に示されている。*
注*
1
一般事項
1.0
適用範囲
(9)
この記載は，IEC電子部品品質認証制度 (IECQ)
の場合に適用する。
この規格は，JIS C 5101-23を品種別通則とするブランク個別規格で，表面実装用固定メタライズドポリ
エチレンナフタレートフィルム直流コンデンサの評価水準EZ（以下，コンデンサという。）について規定
する。
注記1 この規格は，コンデンサの特性について規定するものであるが，その特性に係る規定は，設
計の目標値を示すものであり，この規格によって適合性評価を行うことは，意図していない。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-23-1:2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 23-1: Blank detail
specification−Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC
capacitors−Assessment level EZ (IDT)
なお，対応の程度を表す記号(IDT)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示
す。
1.1
推奨する取付方法
JIS C 5101-23の1.4.2（取付け）参照。
1.2
寸法
外形寸法記号及び寸法は，表1による。
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
表1−外形寸法記号及び寸法
寸法 (mm)
外形寸法記号
注記1 外形寸法記号がない場合は，この表1を削除し，寸法を表2に記載してそれを表1とする。
注記2 寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3
定格及び特性
定格静電容量範囲
（表2による。）
定格静電容量許容差
定格電圧
（表2による。）
カテゴリ電圧（適用する場合）
（表2による。）
耐候性カテゴリ
定格温度
最大交流電圧（適用する場合）
最大パルス負荷（適用する場合）
誘電正接
絶縁抵抗
表2−外形寸法に組み合わせる定格静電容量及び定格電圧
定格電圧
カテゴリ電圧 1)
外形寸法
外形寸法
外形寸法
外形寸法
定格静電容量
nF及び／又はμF
注1) 定格電圧と異なる場合。
1.4
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5101-1:1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: Generic
specification (MOD)
JIS C 5101-23 電子機器用固定コンデンサ−第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリ
エチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-23，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 23：Sectional
specification−Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC capacitors
(IDT)
JIS Z 9015-1:1999 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標
型抜取検査方式
注記 対応国際規格：IEC 60410，Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
1.5
表示
コンデンサ及び包装の表示は，品種別通則JIS C 5101-23の1.6（表示）による。
1.6
発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって少なくとも次の事項を規
定する。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 個別規格の番号及び版並びにコンデンサの種類
e) 包装形態
1.7
出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
1.8
追加情報
（非検査目的）
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
注記 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表3−その他の特性
この表は，品種別通則JIS C 5101-23の規定への追加又
はより厳しい性能を規定するために使用する。
2
検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順は，品種別通則JIS C 5101-23の3.4（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査の試験計画（表4）は，サンプリング方法，周期，厳しさ及び要求性能を示す。検査
ロットの構成は，品種別通則JIS C 5101-23の3.5.1（検査ロットの構成）による。
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
表4−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号
及び試験項目
又は
（注記1参照）
群A検査
（ロットごと）
副群A0
4.3.2 静電容量
4.3.3 誘電正接
（注記1参照）
4.3.4 絶縁抵抗（試験A）*
副群A2
4.2 寸法（注記5参照）
（注記3参照）
要求性能
（注記1参照）
100 %（注記4参照）
規定の許容差による。
4.3.3.2による。
絶縁破壊又はフラッシオ
ーバがない。ただし，
一時的瞬時破壊はあっ
てもよい。
4.3.4.3による。
（注記2
参照）
（注記2
参照）
（注記2
参照）
（注記2
参照）
エージングは行わない。
方法：...
4.7.2 最終測定
注*
測定点： 1a)*
副群A1
4.2.1 外観
副群B2
4.14 表示の耐溶剤性
（適用する場合）（注記6
参照）
周波数：1 kHz（すべて
の静電容量値に適
用）
方法： ...
測定点： 1a)*
4.3.1 耐電圧（試験A）*
群B検査
（ロットごと）
副群B1
4.7 はんだ付け性
試験条件
4.2.2による。
表示（適用する場合）は
明りょうで，その他は，
この規格の1.5 によ
る。
外観検査
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理時間：...
JIS C 5101-1 4.5及び4.6による。
この規格の表1による。
4.7.2による。
表示は明りょうとする。
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目
又は
（注記1参照）
群C 検査
（定期的）
副群C1
4.6 はんだ耐熱性
4.6.1 初期測定
4.6.2 試験条件
要求性能
（注記3参照）
（注記1参照）
方法：...
静電容量
時間：...
方法1 を適用する場
合，浸せき及び引上
げの速さは，
とする。
後処理時間：24 h±2 h
外観
静電容量
4.13 部品の耐溶剤性
（適用する場合）
4.5.2 最終測定
試料数
及び合格判定個数
（許容不適合数）
（注記1参照）
4.6.3 最終測定
副群C2
4.5 耐プリント板曲げ性
（電極の接着強度）
4.5.1 初期測定
試験条件
（注記7
参照）
4.6.3による。
4.6.1の測定値に対して，
性能等級1及び2の場
合
性能等級3 の場合
個別規格の規定による。
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法2
後処理時間：...
静電容量
静電容量（プリント配線
板を曲げた状態）
外観
（注記7
参照）
4.5.1の測定値に対して，
性能等級1及び2の場
合
性能等級3の場合
外観に損傷がない。
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目
又は
（注記1参照）
試験条件
試料数
及び合格判定個数
（許容不適合数）
要求性能
（注記3参照）
（注記1参照）
（注記1参照）
副群C3
4.1 取付け
（注記8参照）
4.2.1 外観
4.3.2 静電容量
プリント配線板の材
質：...**
4.3.3 誘電正接
周波数：
1 kHz（すべての静電容
量値に適用）
10 kHz，CR≦1 μFに適
外観に損傷がない。
取付け前の測定値に対して，
4.3.3.2による。
（副群C3.1，副群C3.3及
び副群C3.4の最終測定
に対する初期値）
用（追加として，
4.3.3.3による。）
4.3.4 絶縁抵抗
副群C3.1
4.4 固着性
4.4.1 中間測定
4.8 温度急変
4.8.1 初期測定
4.8.2 試験条件
4.8.3 中間測定
4.9 一連耐候性
4.9.1 初期測定
4.9.2 高温
4.9.3 温湿度サイクル
（12＋12時間サイクル），
最初のサイクル
4.9.4 低温
4.9.5 温湿度サイクル
（12＋12時間サイクル），
残りのサイクル
4.3.4.3による。
外観
行わない。副群C3の測
定値による。
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1＝30 min
外観
（注記7
参照） 外観に損傷がない。
外観に損傷がない。
行わない。副群C3の測
定値による。
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
試験槽から取出し後，15
分以内に定格電圧を
1分間印加する。
注** 各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は，それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個別規
格に規定する。
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目
又は
（注記1参照）
4.9.6 最終測定
試験条件
（注記1参照）
試料数
及び合格判定個数
（許容不適合数）
（注記3参照）
外観
誘電正接：
絶縁抵抗
4.10.2 最終測定
行わない。副群C3の測
定値による。
外観
静電容量
誘電正接：
絶縁抵抗
（注記1参照）
外観に損傷がない。
表示が明りょうである。
副群C3の測定値に対して，
性能等級1及び2の場合
性能等級3の場合
誘電正接の増加：
副群C3の測定値に対して，
性能等級1≦0.002 5
性能等級2≦0.004
性能等級3≦0.007
副群C3の測定値に対して，
性能等級1≦0.003
性能等級2≦0.005
性能等級3≦0.007
4.3.4.3の値に対して，
性能等級1及び2の場合
性能等級3の場合
静電容量
副群C3.2
4.10 高温高湿（定常）
4.10.1 初期測定
要求性能
外観に損傷がない。
副群C3の測定値に対して，
性能等級1及び2の場合
性能等級3の場合
誘電正接の増加：
副群C3の測定値に対して，
性能等級1及び2の場合
性能等級3の場合
4.3.4.3の値に対して，
性能等級1及び2の場合
性能等級3の場合
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目
又は
（注記1参照）
副群C3.3
4.11 耐久性
4.11.1 初期測定
試験条件
（注記1参照）
試料数
及び合格判定個数
（許容不適合数）
（注記3参照）
行わない。副群C3の測
定値による。
4.11.2，4.11.3及び4.11.4
による。
4.11.2 試験条件
4.11.5 最終測定
外観
外観に損傷がない。
表示が明りょうである。
副群C3の測定値に対して，
性能等級1の場合
性能等級2及び3の場
合
誘電正接の増加：
副群C3の測定値に対して，
性能等級1≦0.003
性能等級2≦0.005
性能等級3≦0.007
副群C3の測定値に対して，
性能等級1≦0.002
性能等級2≦0.003
性能等級3≦0.005
4.3.4.3の値に対して，
性能等級1及び2の場
合
性能等級3の場合
誘電正接：
絶縁抵抗
4.12.2 試験条件
4.12.3 最終測定
行わない。副群C3の測
定値による。
10 000サイクル
静電容量
（注記1参照）
（注記7
参照）
静電容量
副群C3.4
4.12 充放電
4.12.1 初期測定
要求性能
（注記7
参照）
副群C3の測定値に対して，
性能等級1の場合
性能等級2の場合
性能等級3の場合
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C 5101-23-1：2008 (IEC 60384-23-1：2006)
表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目
又は
（注記1参照）
試験条件
（注記1参照）
誘電正接：
絶縁抵抗
試料数
及び合格判定個数
（許容不適合数）
（注記3参照）
要求性能
（注記1参照）
誘電正接の増加：
副群C3の測定値に対して，
性能等級1≦0.003
性能等級2≦0.005
性能等級3≦0.007
副群C3の測定値に対して，
性能等級1≦0.002
性能等級2≦0.003
性能等級3≦0.005
4.3.4.3 の値に対して，
性能等級1及び2の場合
性能等級3の場合
注記1 試験の細分箇条番号及び要求性能は，JIS C 5101-23（品種別通則）又はこの規格［JIS C 5101-23-1（ブ
ランク個別規格）］の箇条1（一般事項）による。
注記2 試料数(n)：JIS Z 9015-1に規定の付表1の検査水準 (IL)／ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従
い，付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
注記3 この表の記号は，次による。
IL ：検査水準
p ：周期（月）
n ：試料数
c ：合格判定個数（許容不良数）
D ：破壊試験
ND：非破壊試験
注記4 100 %検査とは，工程で不適合品を取り除いた後に，100万個当たりの不良数 (ppm) で示す出荷品質水
準を監視するために，抜取りによる副群A0の検査をすべて行うことをいう。
100 %検査での抜取水準は，部品製造業者が設定する。どのような特性不適合も，不適合として扱い，
不適合品のすべてを数える。ppm値は，これらの不適合品の累計を用いて算出する。また，抜取試料中
に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とする。
注記5 製造業者が，管理限界を超えるコンデンサを取り除くため，寸法測定に統計的工程管理 (SPC) 又はそ
の他の仕組みを取り入れている場合は，この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
注記6 この試験は，コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。
注記7 不適合が1個発生した場合，新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い，新たな不適合が発生
しないとき合格とする。再試験の間，製品の出荷は継続してもよい。
注記8 取付け後に不適合となった試料は，その後に行う試験の許容不適合の計算に加えてはならない。それら
は，予備の試料と置き換える。
