出典：令和元年度 ITパスポート試験（IP） 秋期分 問47
問題
| 問題文 |
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ソフトウェアの品質を判定する指標として，機能単位の不良件数をその開発規模で割った値を“不良密度”と定義する。不良密度の下限値と上限値を設定し，実績値がその範囲を逸脱した場合に問題ありと判定するとき，A工程では問題がなく，B工程で問題があると判定される機能はどれか。ここで，不良密度の下限値は0.25件／KS，上限値は0.65件／KSとする。また，不良密度の下限値，上限値及び開発規模は，両工程とも同じとする。
【解答選択肢】
| 機能 | 開発規模（KS） | A工程の不良件数（件） | B工程の不良件数（件） |
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| ア | 機能1 | 10 | 6 | 3 |
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| イ | 機能2 | 20 | 14 | 10 |
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| ウ | 機能3 | 50 | 10 | 40 |
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| エ | 機能4 | 80 | 32 | 8 |
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ピヨ意訳：「機能単位の不良件数」を「開発規模」で割った値を「不良密度」と呼ぶことにするよ。不良密度に「これより下だと問題あり」な下限値と「これより上だと問題あり」な上限値を設定し、実際の値がその範囲に入っていないときは問題ありと判断するよ。このとき「A工程では問題がないけどB工程では問題があるね！」と判断される機能は、どれ？なお、下限値は「0.25件／開発規模」で上限値は「0.65件／開発規模」だよ。あと「不良密度の下限値」「不良密度の上限値」「開発規模」はA工程とB工程で同じだよ。
【解答選択肢】
| 機能 | 開発規模（KS） | A工程の不良件数（件） | B工程の不良件数（件） |
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| ア | 機能1 | 10 | 6 | 3 |
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| イ | 機能2 | 20 | 14 | 10 |
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| ウ | 機能3 | 50 | 10 | 40 |
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| エ | 機能4 | 80 | 32 | 8 |
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| 解答選択肢 |
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| ア | 【機能】機能1 【開発規模（KS）】10 【A工程の不良件数（件）】6 【B工程の不良件数（件）】3 |
| ピヨ意訳：- |
| イ | 【機能】機能2 【開発規模（KS）】20 【A工程の不良件数（件）】14 【B工程の不良件数（件）】10 |
| ピヨ意訳：- |
| ウ | 【機能】機能3 【開発規模（KS）】50 【A工程の不良件数（件）】10 【B工程の不良件数（件）】40 |
| ピヨ意訳：- |
| エ | 【機能】機能4 【開発規模（KS）】80 【A工程の不良件数（件）】32 【B工程の不良件数（件）】8 |
| ピヨ意訳：- |
正解
| 正解 |
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| エ | 【機能】機能4 【開発規模（KS）】80 【A工程の不良件数（件）】32 【B工程の不良件数（件）】8 |
| ピヨ意訳：- |
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